Studio dello strato superficiale del silicio con deposizione di indio: Microscopia a effetto tunnel e spettroscopia delle strutture superficiali su Si(111) Si(557) cluster

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Studio dello strato superficiale del silicio con deposizione di indio: Microscopia a effetto tunnel e spettroscopia delle strutture superficiali su Si(111) e Si(557) con cluster

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Märke Edizioni Sapienza
EAN
  • 9786202210928

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