Estudio de la capa superficial del silicio con recubrimiento indio: Microscopía efecto túnel y espectroscopia estructuras en las superficies Si(111) Si(557) clústeres

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Estudio de la capa superficial del silicio con recubrimiento indio: Microscopía efecto túnel y espectroscopia estructuras en las superficies Si(111) Si(557) clústeres

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Märke Ediciones Nuestro Conocimiento
EAN
  • 9786202210850

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