Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Priser från
726,14

Utvalda

JäMFöR ALLA WEBBUTIKER (2)

Beskrivning

Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Description Beskrivning
Product Specifications Produktspecifikationer
Relaterade resultat Relaterade resultat
Next
Previous

Jämför webbutiker (2)

Shop
Pris
Amazon Logga
726,14 kr
Til butik
Amazon Marketplace Logga
726,14 kr
Til butik
Beskrivning (0)

Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Produktspecifikationer

Märke LAP LAMBERT Academic Publishing
EAN
  • 9786630234442

Blackwell Verlag GmbH

Iron Group Metal Compound Nanomaterials: Preparation, Characterization, Structure, and Applications

2.677,34 kr
Jämför 2 butiker 2 Butiker

ICON Group International, Inc.

The 2027-2032 World Outlook for Communication and Technology Compound Semiconductors

11.347,89 kr
Jämför 2 butiker 2 Butiker

ICON Group International, Inc.

The 2027-2032 World Outlook for Compound Semiconductors

11.270,43 kr
Jämför 2 butiker 2 Butiker

Materials Research Forum LLC

Obtaining and Characterization of Phosphate Layers on the Surface Steels for Reinforced Concrete: 183

1.195,95 kr
Jämför 2 butiker 2 Butiker
Utvalt Val
726,14 kr
Til butik